Your browser version is outdated. We recommend that you update your browser to the latest version.

 

 

ΙΣΤΟΡΙΚΟ

Το Εργαστήριο Τεχνικής Μηχανικής (ευρύτατα γνωστό και ως Εργαστήριο Μηχανικής και Υλικών)  ιδρύθηκε το 1990 (Π.Δ. 317/13-9-1990, ΦΕΚ 130/27-9-90 Τεύχος Α) και μετακινήθηκε μετά από την κατάργηση του Γενικού Τμήματος της Πολυτεχνικής Σχολής ΑΠΘ στο Τμήμα Πολιτικών Μηχανικών ΑΠΘ (ΦΕΚ 2962/22-11-2013 Τεύχος Β). Υπό τη Διεύθυνση του Ομότιμου Καθηγητή Η.Χ. Αϋφαντή ο τίτλος που χρησιμοποιείτο σε ερευνητικές προτάσεις ήταν “Εργαστήριο Μηχανικής και Υλικών (Lab of Mechanics and Materials/LMM)", και το Εργαστήριο είχε διακριθεί διεθνώς για την πρωτοποριακή του έρευνα σε Multiscale/Multiphysics Aspects Across the Scale Spectrum/Disciplines, και ειδικότερα στην Gradient Theory of Elasticity/Plasticity/Damage (που έχει επιλύσει προηγουμένως άλυτα προβλήματα αστάθειας/μορφογέννεσης και απειρισμών – material softening/material instabilities/size effects και crack singularities). Μια περίληψη της προηγούμενης δραστηριότητας του Εργαστηρίου Μηχανικής και Υλικών (μέχρι το 2018) βρίσκεται εδώ.

 

Από την 1/9/2018 Διευθυντής του Εργαστηρίου είναι ο Επίκ. Καθηγητής Α.Α. Κωνσταντινίδης.

 


 

 

ΤΡΕΧΟΝΤΑ ΕΡΕΥΝΗΤΙΚΑ ΠΡΟΓΡΑΜΜΑΤΑ

 

 


 

ΕΞΟΠΛΙΣΜΟΣ

  • Ultra-nano Indenter Agilent G200, ικανό για διεξαγωγή πολύ μικρού βάθους μετρήσεων νανοδιείσδυσης με υψηλή ακρίβεια.
  • Microtensile Tester Agilent UTM150, ικανό για διεξαγωγή πειραμάτων μικρο-εφελκυσμού.
  • CSM Nanoindentation Tester/NHT ικανό για διεξαγωγή μικρού βάθους μετρήσεων νανοδιείσδυσης.
  • VEECO Nanoscope Multimode IIID Atomic Force Microscope (AFM), αναβαθμισμένο με scanning tunneling microscope (STM) και Liquid Cell.
  • Hysitron Triboscope (TS), για διεξαγωγή μετρήσεων νανοδιείσδυσης με το AFM.
  • Optical Microscope Leica DM2500 M.
  • Sputter Coater Leica EM ACE600, για παρασκευή λεπτών υμενίων.
  • Specimen Preparation System Leica EM TXP, για κοπή και λείανση δοκιμίων.
  • Confocal Microscope Leica DCM 8, για τριδιάστατη μελέτη επιφανειών.