Your browser version is outdated. We recommend that you update your browser to the latest version.

 

Το Εργαστήριο Τεχνικής Μηχανικής (ΕΤΕΜ) του ΑΠΘ μπορεί να συνεισφέρει στις κάτωθι εφαρμογές:

 

  • Επιφανειακός χαρακτηρισμός στη μικροκλίμακα και νανοκλίμακα: Το ΕΤΕΜ είναι εξοπλισμένο με οπτικό (LEICA DM2500 M) και συνεστιακό (LEICA DCM8) μικροσκόπιο για μέτρηση τραχύτητας στη μικροκλίμακα. Είναι επίσης εξοπλισμένο με Μικροσκόπιο Ατομικής δύναμης (VEECO Multimode IIID) για επιφανειακές μετρήσεις στη νανοκλίμακα.
  • Υπολογισμός ελαστικών σταθερών με μη-καταστροφικές δοκιμές στη νανοκλίμακα: Το ΕΤΕΜ είναι εξοπλισμένο με νανοσκληρόμετρο (CSM Nanoindentation Tester/NHT) καθώς και υπερ-νανοσκληρόμετρο (Agilent G200) για διεξαγωγή μετρήσεων νανοσκληρομέτρησης με σκοπό τον υπολογισμό του Μέτρου Ελαστικότητας και Σκληρότητας υλικών, από μη-καταστροφικές δοκιμές στην επιφάνειά τους.                                            
  • Υπολογισμός εφελκυστικής συμπεριφοράς στη μικροκλίμακα: Το ΕΤΕΜ είναι εξοπλισμένο με Microtensile Tester (Agilent UTM150) για διεξαγωγή πειραμάτων εφελκυσμού σε δοκίμια με διάμετρο στην κλίμακα των μm. 
  • Προετοιμασία δοκιμίων για ηλεκτρονική μικροσκοπία: Το ΕΤΕΜ είναι εξοπλισμένο με Sputter Coater (LEICA EM ACE600) που χρησιμοποιείται για επιμετάλλωση μη-αγώγιμων δοκιμίων (επικάλυψη με μεταλλικό υμένιο).

LEICA EM ACE600LEICA EM ACE600

LEICA DCM8LEICA DCM8

VEECO Multimode IIIDVEECO Multimode IIID

Agilent G200Agilent G200

Agilent UTM150Agilent UTM150